+375 33 903-64-60 (Viber)
8941830570014 (5).jpg +375 29 372-88-10
0 Сравнение
0 Избранное
0 В корзине пока пусто
Каталог товаров
Подписка на новости магазина

Подпишитесь на рассылку и получайте свежие новости и акции нашего магазина.

Рекомендовано МО РБ (ГРИФ)
Описание товара:
Изложены современные представления о физике взаимодействия ионных пучков с твердыми телами, рассмотрены вопросы образования и отжига дефектов кристаллической решетки, формирование заданных профилей распределения легирующих атомов. Приведены данные о современном оборудовании, используемом для ионной и фотонной обработки материалов, а также для изменения свойств ионно-имплантированных слоев. Рассмотрены приложения ионной и фотонной обработки в современных технологиях микроэлектроники и твердотельной электроники.



Для студентов учреждений высшего образования, изучающих физику полупроводниковых материалов, физику твердого тела, физическую электронику, микроэлектронику, методы математической физики.
Характеристики:
Все характеристики
Наши предложения
Рекомендовано МО РБ (ГРИФ)
Вес
375 г
Издательство
Вышэйшая школа
Количество страниц
246
Год издания
2022
Переплёт
Твердая обложка
Характеристики:
Прочие
Наши предложения Рекомендовано МО РБ (ГРИФ)
Вес 375 г
Издательство Вышэйшая школа
Количество страниц 246
Год издания 2022
Переплёт Твердая обложка
Формат 60х84/16
ISBN 978-985-06-3395-8
Похожие товары (14)
Рекомендовано МО РБ (ГРИФ)
Дифракционный анализ Быстрый просмотр
Анищик В.М., Понарядов В.В., Углов В.В.
Дифракционный анализ 3 руб. / шт В корзину
Купить в 1 клик К сравнению
В избранное В наличииВ наличии
Ошибка

Закрыть окно

Самые продаваемые товары
Обратная связь
+37517 360-37-70
Товар добавлен в корзину
Итого:
Продолжить покупки Перейти в корзину
Купить в один клик
Заполните данные для заказа
Купить в один клик Купить в один клик
Запросить стоимость товара
Загрузка товара
Заполните данные для запроса цены
Запросить цену Запросить цену